Измерение параметров цифровых интегральных микросхем — Обобщен опыт разработки методов и средств измерения и контроля параметров цифровых интегральных микросхем (ИС). Рассматриваются различные классы цифровых ИС и их характеристики. Излагаются методы измерения статических и динамических параметров, функционального контроля цифровых ИС, принципы построения средств измерения и контроля. Для инженерно-технических работников — разработчиков цифровых ИС и аппаратуры на их основе, а также для специалистов по метрологическому обеспечению выходного и входного контроля ИС.
Название: Измерение параметров цифровых интегральных микросхем Автор: Эйдукас Д. Ю., Орлов Б. В., Попель Л. М., Лышенко В. И., Шаромет О. Н., Данилин Н. Н., Издательство: Радио и связь Год: 1982 Страниц: 368 Формат: DJVU